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光学特性評価サービス

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導波路特性評価サービス

Si導波路やポリマー導波路をはじめとした導波路デバイスの評価サービスです。

光損失測定(1点法)

導波路の挿入損失を測定します。

  • 測定可能波長:0.85μm、1.3μm、1.55μm
  • 測定導波モード:TE、TM
注意)1点法で測定した結果は、導波路端面での接続損失を含む値です。より精度の高い損失値(伝搬損失)の測定をご希望の場合は、以下に記しますカットバック測定をご利用ください。

光損失測定(カットバック法)

直線導波路を少しずつ短くしてゆき、導波路長に対する挿入損失の線形近似から、1cm当たりの伝搬損失を測定します。

  • 測定可能波長:0.85μm、1.3μm、1.55μm
  • 測定導波モード:TE、TM

光損失波長依存性測定

導波路挿入損失の波長依存性スペクトルを測定します。

  • 測定波長範囲:0.4~1.7μm
  • 測定導波モード:TE、TM

出射光強度分布測定

ニアフィールドパターン測定:

  • 導波路、ファイバなどの出射端面における光強度分布を評価します。

ファーフィールドパターン測定:

  • 導波路、ファイバなどの出射光強度の角度分布依存性を評価します。

測定波長:0.85μm、 1.3μm、 1.55μm

ファイバ接続実装

光導波路、光部品へのファイバ接続、実装をお考えの方、ご相談ください。

  • 光デバイスとファイバアレイの接続
  • ファイバとチップの接続(マイクロキャピラリ使用)

信頼性試験

ヒートサイクル試験、恒温恒湿試験をお考えの方、ご相談ください。

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