Durante muchos años, NTT-AT ha ayudado a los investigadores de sincrotrón con el desarrollo de componentes ópticos de rayos X. Aquí, nos gustaría presentar algunos de nuestros componentes ópticos de rayos X que no han sido publicados como productos.
Caso 1. Placa de zona de Fresnel de rayos X de apodización
Placa de zona de Fresnel con resolución mejorada con espesor de absorbente que varía continuamente
Forma de patrón Ta
Los microscopios de rayos X que usan radiación sincrotrón como fuente de luz generalmente usan una placa de zona de Fresnel (FZP) como elemento de imagen.
NTT-AT ha desarrollado una "Apodización FZP" en la que el grosor del absorbente de rayos X cambia continuamente desde el interior hacia el exterior.
Al usar este FZP, es posible realizar un microscopio de rayos X que logre una alta eficiencia de captación de luz y una alta resolución.
En 2017, el grupo del Dr. Takeuchi en el Centro de Investigación de Radiación Sincrotrón de Japón publicó los resultados de la investigación utilizando este dispositivo.
A Takeuchi et al, J. Phys.: Conf. Ser. 849 012055 (2017)
NTT-AT ha desarrollado una "Apodización FZP" en la que el grosor del absorbente de rayos X cambia continuamente desde el interior hacia el exterior.
Al usar este FZP, es posible realizar un microscopio de rayos X que logre una alta eficiencia de captación de luz y una alta resolución.
En 2017, el grupo del Dr. Takeuchi en el Centro de Investigación de Radiación Sincrotrón de Japón publicó los resultados de la investigación utilizando este dispositivo.
A Takeuchi et al, J. Phys.: Conf. Ser. 849 012055 (2017)
Caso 2. Placa de zona de condensador de sector
Contribuye a la iluminación uniforme del objetivo de observación para microscopios de imágenes de rayos X
La placa de zona del condensador de sector es un elemento óptico desarrollado para la iluminación de microscopios de imágenes de rayos X que utilizan radiación de sincrotrón.
Este elemento óptico tiene una estructura en la que las rejillas de difracción igualmente espaciadas están dispuestas radialmente y, al combinarlo con un tope de haz central y un OSA (apertura para seleccionar el orden de difracción de la placa de zona) y girarlo, la iluminación uniforme del objetivo de observación se puede lograr se puede realizar
La placa de zona de condensador de sector NTT-AT, en la que tres tipos de patrones de rejilla de difracción de espaciado de transmisión dispuestos radialmente están dispuestos en una membrana de SiC, se utilizó para experimentos de microscopía de imágenes X utilizando SPring-8 BL37XU. .
En 2009, el grupo del Dr. Takeuchi en el Centro de Investigación de Radiación Sincrotrón de Japón publicó los resultados de la investigación utilizando este dispositivo.
A. Takeuchi et al, J. Phys.: Conf. Ser. 186 012020 (2009)
Este elemento óptico tiene una estructura en la que las rejillas de difracción igualmente espaciadas están dispuestas radialmente y, al combinarlo con un tope de haz central y un OSA (apertura para seleccionar el orden de difracción de la placa de zona) y girarlo, la iluminación uniforme del objetivo de observación se puede lograr se puede realizar
La placa de zona de condensador de sector NTT-AT, en la que tres tipos de patrones de rejilla de difracción de espaciado de transmisión dispuestos radialmente están dispuestos en una membrana de SiC, se utilizó para experimentos de microscopía de imágenes X utilizando SPring-8 BL37XU. .
En 2009, el grupo del Dr. Takeuchi en el Centro de Investigación de Radiación Sincrotrón de Japón publicó los resultados de la investigación utilizando este dispositivo.
A. Takeuchi et al, J. Phys.: Conf. Ser. 186 012020 (2009)
Caso 3. Anillo de fase Zernike de rayos X
Elemento transmisivo que realiza un microscopio de contraste de fase de rayos X
El método de convertir la diferencia de fase de una sustancia transparente en un contraste claro-oscuro y detectarlo se llama observación de contraste de fase y tiene varias aplicaciones. Para esta observación de contraste de fase se utiliza un elemento de anillo que da una diferencia de fase de λ/4.
El anillo de fase Zernike de rayos X es un elemento que proporciona una diferencia de fase λ/4 a los rayos X en la observación de contraste de fase de rayos X.
Los anillos de fase de rayos X Ta fabricados por NTT-AT se montan en microscopios de imágenes de rayos X que usan radiación de sincrotrón y se usan para detectar imágenes microscópicas de contraste de fase.
En 2009, el grupo del Dr. Takeuchi en el Centro de Investigación de Radiación Sincrotrón de Japón publicó los resultados de la investigación utilizando este dispositivo.
A. Takeuchi et al, J. Phys.: Conf. Ser. 186 012020 (2009)
El anillo de fase Zernike de rayos X es un elemento que proporciona una diferencia de fase λ/4 a los rayos X en la observación de contraste de fase de rayos X.
Los anillos de fase de rayos X Ta fabricados por NTT-AT se montan en microscopios de imágenes de rayos X que usan radiación de sincrotrón y se usan para detectar imágenes microscópicas de contraste de fase.
En 2009, el grupo del Dr. Takeuchi en el Centro de Investigación de Radiación Sincrotrón de Japón publicó los resultados de la investigación utilizando este dispositivo.
A. Takeuchi et al, J. Phys.: Conf. Ser. 186 012020 (2009)
consulta
NTT-AT proporciona muchos componentes ópticos de rayos X además de los presentados aquí, y respalda la investigación y el desarrollo de los clientes en los campos de la ciencia de la radiación sincrotrón, la aplicación láser y los equipos industriales. No dude en ponerse en contacto con nosotros para consultas tales como un presupuesto.Información del Producto
| Placa de zona de Fresnel de rayos X | Tabla de rayos X <producto del catálogo> |
de cerca