Diketahui bahwa pemanasan dalam vakum ultra-tinggi dapat mengontrol keadaan agregat langkah-langkah dengan ketinggian tingkat atom pada permukaan silikon. Untuk bidang Si(111), tinggi langkah atom ditentukan secara kristalografis menjadi 0,31 nm.
Dengan menggunakan sampel ini, Anda dapat mengkalibrasi mikroskop gaya atom (AFM) Anda dalam urutan dalam arah ketinggian dan mengevaluasi kinerja perangkat.
Ukuran sampel adalah 10mm x 10mm dan dapat digunakan dengan instrumen AFM apa pun. Bagian tengah sampel akan dikirim sehingga tidak bersentuhan dengan paket, dll.
Anda dapat menggunakannya selama lebih dari 6 bulan jika Anda menyimpannya dengan hati-hati terhadap kelembaban, kontaminan mengambang, dll.
Penggunaan
- Kalibrasi ketinggian peralatan
- Pemeriksaan kinerja peralatan
Silakan merujuk ke J.Vac.Sci. & Technol., A14, 1228 (1996) untuk metode kalibrasi ketinggian menggunakan struktur permukaan yang sama dengan sampel ini. Untuk metode kalibrasi khusus, silakan hubungi tempat pembelian peralatan.
Jumlah persimpangan langkah sekecil mungkin, dan partikel SiC yang dihasilkan selama perlakuan panas sesedikit mungkin.
Sampel standar untuk kalibrasi ketinggian AFM (mikroskop gaya atom), dll.
| Nama Produk: |
Sampel standar untuk kalibrasi ketinggian AFM dengan ketinggian langkah atom Item No.: S-AFM-1 |
|---|---|
| Sampel: | Silikon (111) substrat |
| Ukuran sampel: |
10mm x 10mm x (ketebalan substrat) Jika Anda memiliki ukuran sampel yang diinginkan, silakan hubungi kami secara terpisah. |
| Daerah efektif: | Bagian tengah 6mm × 6mm |
| Lampiran: | Hasil pengamatan AFM (1 m × 1 m) |
| Masa garansi pengamatan: |
6 bulan setelah melahirkan Namun, simpan dalam desikator atau sejenisnya dengan kelembaban yang dikendalikan oleh gas inert kering atau desikan. Selain itu, dianjurkan untuk meniup debu yang menempel selama pengukuran dengan meniup dengan gas inert kering (nitrogen, dll.). Kami tidak dapat menjamin bahwa struktur permukaan akan memburuk karena pengaturan kondisi pengukuran AFM, atau jika akan dicuci dengan bahan kimia organik, air, dll. |
| Daftar Harga: | 250.000 yen |
| tenggat waktu: | 1-2 bulan |
(Referensi) Institut Nasional Sains dan Teknologi Industri Maju Pusat Metrologi Nasional
merapatkan