Nosotros, NTT ADVANCE TECHNOLOGY (NTT-AT), contamos con el conocimiento de análisis de materiales cultivado durante muchos años en los laboratorios de NTT.
Apoyamos su investigación y desarrollo con una amplia gama de alineaciones de servicios de acuerdo a su propósito.
Sensibilidad de detección y tamaño del método de análisis (imagen)
Si pasa el mouse sobre el nombre de cada método de análisis en la figura a continuación, se mostrará el tamaño objetivo de ese análisis. Haga clic para ir a la página de detalles de cada análisis.
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Observación morfológica
Dispositivo, morfología/estructura del material, evaluación de la composición
Buscar por método de análisis
| Método de análisis | Información obtenida | Ejemplo de aplicación | Resolución de superficie |
|---|---|---|---|
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TEM microscopio electrónico de transmisión |
Estructura transversal | Observación transversal de dispositivos semiconductores, FFT | 0.2nm |
| FIB-SEM | Información como vacíos internos y defectos | Análisis de defectos de cerámica porosa | |
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SEM microscópio electrónico escaneando |
Observación de la forma de la superficie | Observación detallada de la forma de piezas defectuosas | 2 nm |
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AFM microscopio de fuerza atómica |
Observación de irregularidades microscópicas en la superficie | Medición de la microrrugosidad del silicio | varios nm |
análisis de superficie
Cualquier tipo de análisis requiere "know-how", incluidas las condiciones de medición y el pretratamiento. En nuestra empresa, proponemos el método de análisis óptimo de acuerdo con diversas condiciones, como el propósito del análisis del cliente, la condición de la muestra, la resolución y la sensibilidad de detección, etc., y nuestra fortaleza es realizar un análisis que refleje la información de la muestra original.
Buscar por método de análisis
| Método de análisis | Información obtenida | Ejemplo de aplicación | elemento de análisis y Concentración límite de detección |
resolución de profundidad y Resolución de superficie |
|---|---|---|---|---|
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SIM Espectrometría de masas de iones secundarios |
Quiero obtener la concentración de impurezas con alta sensibilidad. | Distribución de la profundidad del dopante | H~U ppb a ppm |
Algunas a varias decenas de nm 1 a varias decenas de μm |
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XPS espectroscopía de fotoelectrones de rayos X |
Composición superficial y estado químico | Estado de oxidación superficial, contaminación superficial | Li a U 0.1-1% |
>2nm >30 μm |
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AES espectroscopia de electrones Auger |
Información de profundidad de la estructura Análisis elemental de partes diminutas |
Estructura de película delgada, análisis cualitativo de contaminantes. | Li a U 0.1-1% |
>2nm >15nm |
análisis químico
Equipo principal de mantenimiento
Buscar por método de análisis
| Método de análisis | Información obtenida | Ejemplo de aplicación | elemento de análisis | Concentración límite de detección |
|---|---|---|---|---|
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ICP-MS por inducción de plasma espectrometría de masas |
Análisis elemental de alta sensibilidad ・Análisis de soluciones ・Análisis de fracturas |
Análisis de metales traza en obleas de Si, metales traza en el medio ambiente e impurezas en agua pura | Elementos distintos de halógeno, gas inerte, H, C, N, O | ppt ~ (dependiendo del objetivo de medición) |
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yo c Análisis cromatográfico iónico |
Análisis de soluciones altamente sensibles Análisis cualitativo y cuantitativo de iones |
Encuesta de atmósfera de sala limpia | aniones, cationes, iones de ácidos orgánicos | ppm a ppm (dependiendo del objetivo de medición) |
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TXRF Análisis de fluorescencia de rayos X de reflexión total |
Análisis elemental de alta sensibilidad ・No destructivo ・Sin contacto |
Contaminación de la superficie de la oblea Semiconductores compuestos que no sean sustratos de Si (zafiro, SiC, GaN, etc.) |
Na a U | 109 átomos/ cm2 |
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GC-EM cromatógrafo de gases espectrometría de masas |
Análisis cualitativo y cuantitativo de compuestos orgánicos, Análisis estructural |
Identificación de compuestos orgánicos, determinación de estructura, análisis de materia orgánica durante CR | Elementos distintos de halógeno, gas inerte, H, C, N, O | ppb~ (dependiendo del objetivo de medición) |
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XRF análisis de fluorescencia de rayos X |
Análisis elemental | Análisis cualitativo de película fina/polvo/composición a granel | B~U | ～0.01％ |
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ICP-AES Espectrometría de emisión ICP |
análisis de trazas elementales, Análisis multielemento |
Análisis de composición de varios materiales y películas delgadas. | Elementos distintos de halógeno, gas inerte, H, C, N, O | ppb~ (dependiendo del objetivo de medición) |
Caracterización de la prueba
Evaluamos y medimos las propiedades ópticas de los materiales de comunicación óptica, la permeabilidad a los gases, la viscoelasticidad, las propiedades termofísicas y las propiedades del polvo de los materiales.
Buscar por contenido de análisis
| Contenido del análisis | Información obtenida |
|---|---|
| permeabilidad a los gases | (Gas/vapor de agua) permeabilidad |
| Viscoelasticidad | Viscoelasticidad dinámica (tensión, flexión, torsión), viscoelasticidad en estado fundido |
| propiedades termofísicas | Punto de transición vítrea del material, valor calorífico/cambio de peso |
| Propiedades del polvo | Área de superficie específica (método BET), distribución del tamaño de partículas (método de difracción láser/método de dispersión dinámica de la luz), distribución de poros |
| Análisis de endotoxinas (muestra un sitio externo en una nueva ventana) | concentración de endotoxinas |
Flujo de análisis
En el Centro de Análisis de Materiales de NTT-AT no sólo proporcionamos datos analíticos, sino que también proponemos métodos de resolución de problemas utilizando métodos óptimos en función de los problemas planteados por nuestros clientes.
Paso 1 Consulta (envío del problema)
Si tiene algún problema con la evaluación del material, ¡no dude en contactarnos! No dude en contactarnos a través del formulario de consulta o por teléfono. Indíquenos el nombre de la muestra, la forma de la muestra, la composición, etc. en la medida de lo posible.
Paso 2 Envía tu idea
Propondremos el método de análisis óptimo en función del problema del cliente, muestra, etc. Celebraremos un acuerdo de confidencialidad si lo solicita.
Paso 3 Examinando ideas
Las solicitudes (necesidades) de evaluación de materiales de nuestros clientes se extienden más allá del simple análisis de materiales e incluyen todo, desde el desarrollo de nuevos materiales hasta la evaluación de la confiabilidad del proceso.
Paso 4 Estimación y plan(propuesta)
Le proporcionaremos una estimación de fecha de entrega, tarifas, cronograma de análisis, etc. Si se requiere una prueba, podemos realizar un análisis de prueba por adelantado.
Paso ５ Contrato
Si tiene alguna pregunta sobre la cotización, no dude en comunicarse con nuestro representante de ventas. Después de realizar su pedido, realizaremos un análisis.
Paso 6 Informe de resultados
Tras realizar el análisis, le entregaremos el informe de resultados del análisis junto con el albarán de entrega y el recibo. Si lo solicita, le notificaremos los resultados por correo electrónico antes de la entrega.
Paso 7 Pago
Por favor selle el recibo adjunto en el momento de la entrega y devuélvalo. Le cobraremos una tarifa de análisis. Como norma general el pago se realizará mediante transferencia bancaria a final de mes del mes siguiente.
Por favor contáctenos primero.
Nuestros servicios de análisis ayudan a los clientes a resolver diversos problemas.
Por favor contáctenos usando el botón de contacto en la parte inferior derecha.
*Si su solicitud es del extranjero, es posible que no podamos responder a su solicitud debido a problemas de transporte o exportación de tecnología.
Información sobre la ubicación
Dentro del Centro de I+D de NTT Atsugi (haga clic aquí para ver un mapa)Ubicación 3-1 Morinosato Wakamiya, ciudad de Atsugi, prefectura de Kanagawa 243-0124
Estación más cercana Estación Hon-Atsugi / Estación Aiko-Ishida (Línea Odakyu)
Haga clic aquí para obtener información sobre otras ubicaciones (sede central, etc.)
Calificación pública principal
- Oficina de certificación de medición: nivel de aceleración de vibraciones
- Registrado como una organización designada para la medición del entorno de trabajo
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