Inicio > Óptica EUV, Óptica de rayos X > Espectrómetro/fotodetector EUV/rayos X

Espectrómetro/fotodetector EUV/rayos X

Brindamos soluciones de espectroscopia y fotodetección sin precedentes

consultas en ingles

Brindamos soluciones de espectroscopia y fotodetección sin precedentes, como espectrómetros de campo plano de banda ancha y alta eficiencia en las regiones de rayos X suaves, VUV y EUV, equipos XAFS y cámaras CCD de rayos X compactas.
Ambos productos son ampliamente utilizados por universidades, institutos de investigación y empresas privadas, principalmente en Europa y América del Norte, y contribuyen a diversas actividades de investigación y desarrollo.


Foto de imagen del espectroscopio
Espectrómetro
Tipo de campo plano altamente eficiente
Imagen del equipo XAFS
dispositivo XAFS
Solución XAFS integrada
Foto de imagen CCD, MCP
CCD, PCM
Cámara CCD para poca luz,
detector de bajo ruido

Línea de fotodetectores/espectrómetros de rayos X/EUV

Espectrómetro

maxLIGHT pro: perfilador de haz y espectrómetro de campo plano de alta eficiencia

maxLIGHT pro foto

Sitio del fabricante (inglés)

maxLIGHT pro
Proporciona la máxima recolección de luz y la mayor eficiencia del sistema en espectrómetros XUV. Un perfilador de haz incorporado lo convierte en una herramienta de caracterización completa para cualquier fuente de luz XUV.
Un amplio rango efectivo de campo plano de 1 nm a 200 nm y el cambio automático de regiones espectrales mejoran en gran medida la eficiencia de la investigación.

maxLIGHT pro VUV
Una herramienta de caracterización completa para cualquier fuente de luz VUV, que combina un espectrómetro de alta eficiencia de 40 nm a 200 nm y un perfilador de haz. El cambio automático de rango de longitud de onda y las opciones de expansión plug-and-play a longitudes de onda XUV más cortas ofrecen una mayor flexibilidad de I+D.

Ejemplos de aplicación: fuentes armónicas de alto orden, ciencia de attosegundos, interacción entre láseres de alta intensidad y materia

easyLIGHT XUV- Espectrómetro XUV compacto de campo plano de alta eficiencia

foto de dasyLIGHT XUV

Sitio del fabricante (inglés)

Logra hasta 20 veces más eficiencia con una configuración sin ranura que cubre longitudes de onda de 30 nm a 250 nm en un campo plano. Es un dispositivo compacto que cubre una banda ancha.
Equipado con una función de supresión de luz parásita para mejorar la relación señal/ruido.

Ejemplos de aplicación: fuentes armónicas de alto orden, ciencia de attosegundos, interacción entre láseres de alta intensidad y materia

easyLIGHT VUV- Espectrómetro VUV compacto

Imágenes de easyLIGHT VUV

Sitio del fabricante (inglés)

Espectrómetro de propósito general que cubre el rango de longitud de onda de 80 nm a 300 nm. También se puede seleccionar un modo de monocromador.
Tiene la mejor eficiencia de rejilla de su clase y ofrece una excelente precisión de longitud de onda con posicionamiento de rejilla de circuito cerrado. También tiene una función de supresión de luz parásita.

Ejemplos de aplicación: espectroscopia de descomposición inducida por láser (LIBS), caracterización de fuentes de emisión de plasma

 

Equipo XAFS

hiXAS- Solución XAS Integrada

Imágenes de hiXAS

Sitio del fabricante (inglés)

hiXAS ofrece una solución de investigación completa para mediciones extensivas de estructura fina de absorción de rayos X (EXAFS) y estructura fina de absorción de rayos X (XANES).

Se integran de forma compacta un tubo de rayos X, un espectrómetro de alta resolución y un fotodetector híbrido, y se instala un grupo de software para el control de dispositivos y el análisis de datos.

Ejemplos de aplicación: especies químicas y proporciones de concentración, estudios de compuestos, orden de corto alcance y determinación de longitud de enlace

 

CCD/MCP

maxCAM y easyCAM- Cámaras XUV/VUV

Imágenes de maxCAM y easyCAM

Sitio del fabricante (inglés)

La cámara compacta CF63 de espectroscopia de HP se desarrolló específicamente teniendo en cuenta las aplicaciones de imagen y espectroscopia de rayos X/VUV/XUV. Esta cámara es excelente para disparar en entornos con poca luz.

maxCAM utiliza un sensor retroiluminado y logra una eficiencia cuántica de hasta el 95 %. Electrónica de bajo ruido y temperatura ambiente El enfriamiento electrónico hasta -80 °C permite que los conteos oscuros sean insignificantes.
easyCAM logra una eficiencia cuántica del 40 % en el rango de longitud de onda de 100 nm a 300 nm, donde las cámaras XUV convencionales no han logrado una alta eficiencia.

Ejemplos de aplicación: observación de armónicos de alto orden, observación de emisión de plasma EUV, microscopio de rayos X

Cámara MCP/CMOS- detector de bajo ruido

Foto de la cámara MCP/CMOS

Sitio del fabricante (inglés)

Los detectores basados en MCP de espectroscopia HP han demostrado un rendimiento excelente en muchas áreas de aplicación.
En condiciones de fotones extremadamente bajos, por ejemplo, unos pocos fotones por hora, el tiempo de adquisición requerido puede ser de varias horas. Una placa multicanal en combinación con una cámara CMOS de bajo ruido con una tasa de conteo oscuro de 1/s/ cm2 permite tales mediciones.

Ejemplos de aplicación: observación de armónicos de alto orden, observación de emisión de plasma EUV, microscopio de rayos X



Acerca de la espectroscopia HP

HP Spectroscopia, establecida en 2012, es un grupo de expertos que proporciona espectroscopia y sistemas de detección para la región de rayos X suaves a VUV. Hasta ahora, hemos apoyado la investigación y el desarrollo de universidades, institutos de investigación y empresas privadas, principalmente en Europa y América del Norte.
 

noticias

17 de febrero de 2022
NTT-AT comienza a proporcionar soluciones de espectroscopia para regiones de rayos X blandos, VUV y EUV fabricadas por HP Spectroscopia en Alemania

consulta

NTT-AT ofrece productos de alto rendimiento de HP Spectroscopia junto con la tecnología avanzada NTT-AT. No dude en ponerse en contacto con nosotros para consultas tales como un presupuesto.
 
consultas en ingles

Línea de producto

de cerca

Lista de servicios

de cerca

Lista de propuestas para la resolución de problemas

de cerca

Lista de catálogo

de cerca