- Idéal pour l'étalonnage de la longueur et de l'angle des microscopes à sonde à balayage, etc. Essentiel pour l'évaluation fine du motif
- Petit prix et délai de livraison court
* Nous acceptons également les commandes spéciales pour les motifs ultra-fins avec un pas de 100 nm ou moins.
Caractéristiques/Spécifications
Type vertical (AS100P-D) | Type incliné (AS200P-A) | |
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Usage | Étalonnage de la longueur, évaluation de la forme de la sonde | calibrage d'angle |
caractéristique |
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angle d'inclinaison | 90 degrés | 54,74 degrés |
Type de motif | 1:1 L&S (concave en dehors de la zone du motif) | 400 nm L&S Grille de 400 nm 200 nm L&S 100 nmL&S ou plus 4 types |
Largeur de ligne (convexe) | 50-250 nm | 100-400 nm |
profondeur du motif | 125nm±20% | 100-200 nm (prêt à l'emploi) |
zone de motif | 200μm × 200μm | 184μm × 184μm × 4 (graine) |
substrat | Si 10mm×10mm×0.525mmt | Si 10mm×10mm×0.525mmt |
*Nous offrons des prix bas et des délais de livraison courts. N'hésitez pas à nous contacter.
Type vertical (AS100P-D)
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Section transversale L&S à pas de 100 nm
Type incliné (AS200P-A)
Image d'observation AFM(unité : direction horizontale : μm, direction verticale : nm)
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Motif L&S à pas de 400 nm
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Grille de pas de 800 nm
Exemple de commande personnalisée
Image MET
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Section transversale L&S à pas de 50 nm