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Échelle de mesure de longueur

Demandes en anglais
  • Idéal pour l'étalonnage de la longueur et de l'angle des microscopes à sonde à balayage, etc. Essentiel pour l'évaluation fine du motif
  • Petit prix et délai de livraison court

* Nous acceptons également les commandes spéciales pour les motifs ultra-fins avec un pas de 100 nm ou moins.

Caractéristiques/Spécifications

  Type vertical (AS100P-D) Type incliné (AS200P-A)
Usage Étalonnage de la longueur, évaluation de la forme de la sonde calibrage d'angle
caractéristique
  • Etant donné que la gravure anisotrope est utilisée sur un substrat Si(110), la forme du motif est verticale et précise.
  • Une mesure précise de la forme de la sonde est possible grâce au degré élevé d'orthogonalité
  • Étant donné que la gravure anisotrope est utilisée sur un substrat Si (100), l'angle d'inclinaison du motif est précis à 54,7 degrés.
  • Angle d'inclinaison précis de 54,7 degrés, idéal pour confirmer la reproductibilité de l'appareil
angle d'inclinaison 90 degrés 54,74 degrés
Type de motif 1:1 L&S (concave en dehors de la zone du motif) 400 nm L&S
Grille de 400 nm
200 nm L&S
100 nmL&S ou plus 4 types
Largeur de ligne (convexe) 50-250 nm 100-400 nm
profondeur du motif 125nm±20% 100-200 nm (prêt à l'emploi)
zone de motif 200μm × 200μm 184μm × 184μm × 4 (graine)
substrat Si 10mm×10mm×0.525mmt Si 10mm×10mm×0.525mmt

*Nous offrons des prix bas et des délais de livraison courts. N'hésitez pas à nous contacter.

Type vertical (AS100P-D)

100nmピッチL&S断面
Section transversale L&S à pas de 100 nm

Type incliné (AS200P-A)

Image d'observation AFM(unité : direction horizontale : μm, direction verticale : nm)

400nmピッチL&Sパタン
Motif L&S à pas de 400 nm
800nmピッチグリッドパタン
Grille de pas de 800 nm

Exemple de commande personnalisée

Image MET

50nmピッチL&S断面
Section transversale L&S à pas de 50 nm

 

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