Depuis de nombreuses années, NTT-AT assiste les chercheurs synchrotron dans le développement de composants optiques à rayons X. Ici, nous aimerions présenter certains de nos composants optiques à rayons X qui n'ont pas été publiés en tant que produits.
Cas 1. Plaque de zone de Fresnel à rayons X d'apodisation
Plaque de zone de Fresnel avec une résolution améliorée avec une épaisseur d'absorbeur variant en continu
Ta forme de motif
Les microscopes à rayons X qui utilisent le rayonnement synchrotron comme source de lumière utilisent généralement une plaque de zone de Fresnel (FZP) comme élément d'imagerie.
NTT-AT a développé une "Apodisation FZP" dans laquelle l'épaisseur de l'absorbeur de rayons X change continuellement de l'intérieur vers l'extérieur.
En utilisant ce FZP, il est possible de réaliser un microscope à rayons X qui atteint à la fois une efficacité de collecte de lumière élevée et une résolution élevée.
En 2017, le groupe du Dr Takeuchi au Japan Synchrotron Radiation Research Center a publié des résultats de recherche utilisant cet appareil.
A Takeuchi et al, J. Phys. : Conf. Ser. 849 012055 (2017)
NTT-AT a développé une "Apodisation FZP" dans laquelle l'épaisseur de l'absorbeur de rayons X change continuellement de l'intérieur vers l'extérieur.
En utilisant ce FZP, il est possible de réaliser un microscope à rayons X qui atteint à la fois une efficacité de collecte de lumière élevée et une résolution élevée.
En 2017, le groupe du Dr Takeuchi au Japan Synchrotron Radiation Research Center a publié des résultats de recherche utilisant cet appareil.
A Takeuchi et al, J. Phys. : Conf. Ser. 849 012055 (2017)
Cas 2. Plaque de zone de condenseur de secteur
Contribue à un éclairage uniforme de la cible d'observation pour les microscopes d'imagerie à rayons X
La plaque zonée du condenseur sectoriel est un élément optique développé pour l'éclairage des microscopes d'imagerie à rayons X utilisant le rayonnement synchrotron.
Cet élément optique a une structure dans laquelle des réseaux de diffraction équidistants sont disposés radialement, et en le combinant avec un arrêt de faisceau central et un OSA (ouverture pour sélectionner l'ordre de diffraction de la plaque zonée) et en le faisant tourner, un éclairage uniforme de la cible d'observation peut être réalisé. peut être réalisé.
La plaque de zone de condenseur de secteur de NTT-AT, dans laquelle trois types de motifs de réseau de diffraction à espacement de transmission disposés radialement sont disposés sur une membrane SiC, a été utilisée pour des expériences de microscopie d'imagerie X à l'aide du SPring-8 BL37XU. .
En 2009, le groupe du Dr Takeuchi au Japan Synchrotron Radiation Research Center a publié des résultats de recherche utilisant cet appareil.
A. Takeuchi et al, J. Phys. : Conf. Ser. 186 012020 (2009)
Cet élément optique a une structure dans laquelle des réseaux de diffraction équidistants sont disposés radialement, et en le combinant avec un arrêt de faisceau central et un OSA (ouverture pour sélectionner l'ordre de diffraction de la plaque zonée) et en le faisant tourner, un éclairage uniforme de la cible d'observation peut être réalisé. peut être réalisé.
La plaque de zone de condenseur de secteur de NTT-AT, dans laquelle trois types de motifs de réseau de diffraction à espacement de transmission disposés radialement sont disposés sur une membrane SiC, a été utilisée pour des expériences de microscopie d'imagerie X à l'aide du SPring-8 BL37XU. .
En 2009, le groupe du Dr Takeuchi au Japan Synchrotron Radiation Research Center a publié des résultats de recherche utilisant cet appareil.
A. Takeuchi et al, J. Phys. : Conf. Ser. 186 012020 (2009)
Cas 3. Anneau de phase de Zernike aux rayons X
Élément transmissif qui réalise un microscope à contraste de phase à rayons X
La méthode de conversion de la différence de phase d'une substance transparente en un contraste clair-foncé et de sa détection est appelée observation par contraste de phase et a diverses applications. Un élément annulaire qui donne une différence de phase de λ/4 est utilisé pour cette observation en contraste de phase.
L'anneau de phase de Zernike aux rayons X est un élément qui donne une différence de phase λ / 4 aux rayons X dans l'observation du contraste de phase des rayons X.
Les anneaux de phase de rayons X Ta fabriqués par NTT-AT sont montés sur des microscopes d'imagerie à rayons X qui utilisent le rayonnement synchrotron et sont utilisés pour détecter des images microscopiques à contraste de phase.
En 2009, le groupe du Dr Takeuchi au Japan Synchrotron Radiation Research Center a publié des résultats de recherche utilisant cet appareil.
A. Takeuchi et al, J. Phys. : Conf. Ser. 186 012020 (2009)
L'anneau de phase de Zernike aux rayons X est un élément qui donne une différence de phase λ / 4 aux rayons X dans l'observation du contraste de phase des rayons X.
Les anneaux de phase de rayons X Ta fabriqués par NTT-AT sont montés sur des microscopes d'imagerie à rayons X qui utilisent le rayonnement synchrotron et sont utilisés pour détecter des images microscopiques à contraste de phase.
En 2009, le groupe du Dr Takeuchi au Japan Synchrotron Radiation Research Center a publié des résultats de recherche utilisant cet appareil.
A. Takeuchi et al, J. Phys. : Conf. Ser. 186 012020 (2009)
demande
NTT-AT fournit de nombreux composants optiques à rayons X en plus de ceux présentés ici, et soutient la recherche et le développement des clients dans les domaines de la science du rayonnement synchrotron, des applications laser et des équipements industriels. N'hésitez pas à nous contacter pour toute demande telle qu'un devis.Information produit
| Plaque de zone de Fresnel à rayons X | Diagramme radiographique <produit catalogue> |
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