Il est connu que le chauffage dans un ultra-vide peut contrôler l'état global des marches avec des hauteurs de niveau atomique sur la surface du silicium. Pour le plan Si(111), la hauteur de marche atomique est déterminée cristallographiquement à 0,31 nm.
En utilisant cet exemple, vous pouvez calibrer votre microscope à force atomique (AFM) dans l'ordre Å dans le sens de la hauteur et évaluer les performances de l'appareil.
La taille de l'échantillon est de 10 mm x 10 mm et peut être utilisée avec n'importe quel instrument AFM. La partie centrale de l'échantillon sera livrée de manière à ne pas entrer en contact avec le colis, etc.
Vous pouvez l'utiliser pendant plus de 6 mois si vous le stockez soigneusement contre l'humidité, les contaminants flottants, etc.
Usage
- Étalonnage de la hauteur de l'équipement
- Vérification des performances de l'équipement
Veuillez vous référer à J.Vac.Sci. & Technol., A14, 1228 (1996) pour la méthode d'étalonnage de hauteur utilisant la même structure de surface que cet échantillon. Pour la méthode d'étalonnage spécifique, veuillez contacter le lieu d'achat de l'appareil.
Le nombre d'intersections d'étapes est le plus petit possible et les particules de SiC sont produites le moins possible lors du traitement thermique.
AFM (microscope à force atomique) Échantillon standard pour l'étalonnage de la hauteur Spécifications, etc.
| Nom du produit : |
Échantillon standard pour l'étalonnage de la hauteur AFM avec hauteur de pas atomique Numéro d'article : S-AFM-1 |
|---|---|
| Goûter: | Substrat de silicium (111) |
| Taille de l'échantillon: |
10 mm x 10 mm x (épaisseur du substrat) Si vous avez une taille d'échantillon souhaitée, veuillez nous contacter séparément. |
| Zone efficace : | Partie centrale 6mm×6mm |
| Attachement: | Résultat d'observation AFM (1 μm × 1 μm) |
| Période de garantie d'observation : |
6 mois après livraison Cependant, stocker dans un dessiccateur ou similaire avec une humidité contrôlée par un gaz inerte sec ou un dessicant. De plus, il est recommandé de souffler les poussières fixées lors de la mesure en soufflant avec un gaz inerte sec (azote, etc.). Nous ne pouvons pas garantir que la structure de la surface se détériorera en raison du réglage des conditions de mesure AFM, ou si elle sera lavée avec des produits chimiques organiques, de l'eau, etc. |
| Liste des prix: | 250 000 yens |
| date limite: | 1-2 mois |
(Référence) Institut national des sciences et technologies industrielles avancées Centre national de métrologie
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