转至此页的正文
このページの本文へ移動
主页
产品
服务
解决问题的建议
目录
站点地图
GLOBAL Site
特写
首页
>
常见问题
>
关于各产品/服务
> 关于超疏水材料HIREC
超撥水材料HIRECについて
超疏水材料HIREC常见问题解答
FAQ
各商品・サービスについて
关于防结露片湿度控制片
关于超疏水材料HIREC
粉体塗料SAPOE5000について
光学接着剤について
SDS 安全データシート
販売終了商品・サービス一覧
商品のお問い合わせについて
产品列表
光连接器制造
光连接器清洁器
光连接器研磨机、研磨膜
光连接器用测定器
光连接器端面检查机
网络设备
光开关
光布线切换机器人ROME
测量仪器和光测量外围设备
光测量系统,光测量功能部件
自动消光比测量仪PCA系列
自動ステージ
半导体·MEMS相关装置
加压烤箱
自動加熱加圧処理装置
光工程与维护
光纤导通检查器OVC -21
光连接器清洁器
光连接器端面检测装置
光学樹脂
光学粘合剂
高屈折率樹脂
光学元件
聚酰亚胺波长板
晶体波长板
大功率激光器用束流整形器
微透镜、光栅等
MEMS、微细加工产品
小型血流传感器
高灵敏度加速度传感器
纳米压印模具
SiC·SiN膜
设备保养
超疏水材料HIREC
防结露片湿度控制片
隔热漆高反射率隔热涂料
金属腐蚀保护防锈粉末涂料
透明光発電パネル SQPVガラス
低噪声节能灯具
GaN搭載 USB急速充電器
GaN搭載 電源ユニット LED街路灯
KTN光学晶体
KTN光学扫描器
KTN可変焦点レンズ
光学晶体
高精度掘削システム
EUV・X線光学部品
EUV/X線分光器・光検出器
EUV/X射线光学系统设计与制造
EUVミラー/軟X線ミラー
X线图
氮化物半导体外延片
氮化物半导体外延片
电磁噪声控制
图像信息泄漏诊断服务
NoiseBEAT磁带
分析相关商品
SAR评价液剂
电化学传感器芯片
特写
服务列表
委托加工服务
半導体プロセスサービス
薄膜形成サービス
光学材料相关技术
硅波导
光学特性评价
光纤连接实施服务
EMC软错误测试服务
EMC测试服务
EMC整体解决方案
用于医疗设施
软错误测试服务
环境顾问
环境·CSR报告书制作支援
LCA
EMS支持服务
环境教育
环境调查
材料分析服务
形態観察
TEM
SEM
FIB-SEM
試験特性評価
材料分析服务
化学分析
晶圆污染分析
洁净室空气分析
SiC基板表面的金属污染评价事例
特写
解决问题的建议一览表
光纤连接器
减少光纤连接器故障
煤气管道检修作业
我想节省天然气管道检查工作的劳动力
半导体相关
对于那些在抛光后评估基板表面光洁度有困难的人
TEM观察单晶衬底表面的抛光损伤
对于那些难以掌握半导体材料、电池材料等三维结构的人。
使用 FIB-SEM 进行 3D 重建
设备维护相关
更换硅胶以防止水分和结露需要时间和成本。
降低 NTT 基础设施设备故障率和维护成本的解决方案是什么?
乐器的音调每天都在变化
您需要做什么才能获得稳定和良好的音色?
X射线光学元件关联
对于那些在 X 射线光学研究中寻找制造合作伙伴的人
X射线光学元件开发实例
特写
目录列表
光学产品
光学产品综合阵容
光接头清洁器总目录
光连接器抛光机及抛光膜
量产磨床ATP -3200
施工现场磨床POP -311
抛光二氧化硅研磨膜ADS-NEXT
MPO连接器最终抛光片
光连接器测量器、端面检查机
光连接器端面
3D形状测量系统
光连接器端面检查机
设备保养
超疏水材料HIREC
防结露片湿度控制片
隔热漆高反射率隔热涂料
金属腐蚀保护防锈粉末涂料
低噪声节能灯具
光学胶粘剂和光学零件
光相关粘合剂
聚酰亚胺波长板
大功率激光器用束流整形器
环境顾问
环境报告・
CSR报告制作支援服务
环境调查和分析支援
光开关
NSW光学开关装置
光学开关装置CSW系列
半导体MEMS相关装置
加圧/減圧対応卓上型クリーンオーブン
氮化物半导体外延片
窒化物半導体エピタキシャルウエハ InAlN / GaN HEMT
GaN EPITAXIAL WAFERS (英語)
分析服务相关商品
SAR评价液剂
电阻测量探针
电化学传感器芯片制造服务
其他
MEMS、微细加工产品
可穿戴小型血流传感器
高灵敏度加速度传感器
精细加工产品目录产品
纳米压印模具
NIM-PHL45
NIM-PHL80
NIM-PHH100
NIM-PH350
KTN光学晶体
特写