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EUV/X射线分光器·光检测器

提供前所未有的光谱和光学检测解决方案

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我们提供前所未有的光谱学和光电探测解决方案,例如 VUV、EUV 和软 X 射线区域中的高效宽带平场光谱仪、XAFS 设备和紧凑型 X 射线 CCD 相机。
这两种产品都被主要在欧洲和北美的大学、研究所和私营公司广泛使用,并为各种研究和开发做出了贡献。


分光器のイメージ写真
光谱仪
高效平场型
XAFS装置イメージ画像
XAFS 设备
集成 XAFS 解决方案
CCD、MCP イメージ写真
CCD、MCP
CCD相机低光,
低噪声检测器

EUV/X射线分光器·光检测器阵容

光谱仪

maxLIGHT pro -高效平场光谱仪和光束轮廓仪

maxLIGHT pro の写真

制造商站点 (英语)

maxLIGHT 专业版
在 XUV 光谱仪中提供最大的光收集和最高的系统效率。内置光束分析仪使其成为任何 XUV 光源的完整表征工具。
1 nm - 200 nm 的宽平场有效范围和光谱区域的自动切换极大地提高了研究效率。

maxLIGHT pro VUV
适用于任何 VUV 光源的完整表征工具,结合了 40 nm – 200 nm 高效光谱仪和光束分析仪。针对较短 XUV 波长的自动波长范围切换和即插即用扩展选项提供了更大的研发灵活性。

应用实例:高次谐波源、阿秒科学、高强度激光与物质的相互作用

easyLIGHT XUV- 紧凑型高效平场 XUV 光谱仪

dasyLIGHT XUV の写真

制造商站点 (英语)

30 nm至250 nm无缝隙配置,可覆盖平坦的表面波长,效率高达20倍。是覆盖宽带的小型装置。
搭载杂散光抑制功能,提高信噪比。

应用实例:高次谐波源、阿秒科学、高强度激光与物质的相互作用

easyLIGHT VUV- 紧凑型 VUV 光谱仪

easyLIGHT VUV の写真

制造商站点 (英语)

通用光谱仪,覆盖 80 nm – 300 nm 波长范围。单色仪模式也是可选的。
它具有一流的光栅效率,并通过闭路光栅定位提供出色的波长精度。它还具有杂散光抑制功能。

应用示例:激光诱导击穿光谱 (LIBS)、等离子体发射源的表征

 

XAFS设备

hiXAS- 集成 XAS 解决方案

hiXAS の画像

制造商站点 (英语)

hiXAS 为广泛的 X 射线吸收精细结构 (EXAFS) 和 X 射线吸收精细结构 (XANES) 测量提供完整的研究解决方案。

X射线管、高分辨率光谱仪和混合光电探测器紧凑集成,并安装了用于设备控制和数据分析的软件组。

应用示例:化学物质和浓度比、化合物研究、短程有序和键长测定

 

CCD/MCP

maxCAM 和 easyCAM- XUV/VUV 相机

maxCAM ・ easyCAM の写真

制造商站点 (英语)

HP 光谱学的紧凑型 CF63 足迹相机专为 VUV/XUV/X 射线光谱学和成像应用而开发。这款相机擅长在弱光环境下拍摄。

maxCAM 使用背照式传感器,可实现高达 95% 的量子效率。低噪音电子元件和环境温度 电子冷却至 -80°C 允许暗计数可以忽略不计。
easyCAM 在 100 nm – 300 nm 波长范围内实现了 40% 的量子效率,而传统的 XUV 相机无法实现高效率。

应用实例:高次谐波观察、EUV等离子体发射观察、X射线显微镜

MCP/CMOS 相机- 低噪声检测器

MCP/CMOS camera の写真

制造商站点 (英语)

HP 光谱基于 MCP 的检测器已在许多应用领域展示了出色的性能。
在极低光子条件下,例如每小时几个光子,所需的采集时间可能是几个小时。多通道板与暗计数率为 1/s/ cm2的低噪声 CMOS 相机相结合,可实现此类测量。

应用实例:高次谐波观察、EUV等离子体发射观察、X射线显微镜



关于HP Spectroscopy

HP Spectroscopy成立于 2012 年,是一组专家,为 VUV 到软 X 射线区域提供光谱和检测系统。到目前为止,我们已经支持了主要在欧洲和北美的大学、研究机构和私营公司的研发。
 

新闻

2022 年 2 月 17 日
NTT-AT开始为德国 HP Spectroscopy 制造的 VUV、EUV 和软 X 射线区域提供光谱解决方案

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NTT-AT提供来自 HP Spectroscopy 的高性能产品以及NTT-AT的先进技术。请随时与我们联系以进行估算等咨询。
 
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