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X射线光学部件开发事例

如果您正在寻找X射线光学研究的制造合作伙伴

多年来,NTT-AT一直协助同步加速器研究人员开发 X 射线光学元件。在这里,我们想介绍一些我们尚未作为产品发布的 X 射线光学元件。

Case1.标记X射线菲涅尔区域板

  利用连续变化的吸收体厚度提高分辨率的菲涅尔区板块

 
Ta图形
使用同步辐射作为光源的 X 射线显微镜通常使用菲涅耳波带板 (FZP) 作为成像元件。
NTT-AT开发了一种“Apodization FZP”,其中 X 射线吸收器的厚度从内部到外部连续变化。
通过使用该 FZP,可以实现兼具高聚光效率和高分辨率的 X 射线显微镜。

2017年,日本同步辐射研究中心的竹内博士课题组发表了使用该装置的研究成果。
A Takeuchi 等人,J. Phys.:Conf. Ser. 849 012055 (2017)
 
 

Case2.分段电容区域板

  有助于X射线成像显微镜对观察对象的均匀照明

 
扇形聚光镜带板是一种光学元件,用于使用同步辐射照射 X 射线成像显微镜。
该光学元件具有放射状排列等间隔的衍射光栅的结构,通过与中心光束光阑和OSA(用于选择波带片的衍射级数的孔径)组合并旋转它,对观察目标进行均匀照明可以实现,可以实现。

NTT-AT的扇形聚光带板,其中三种放射状排列的透射间距衍射光栅图案排列在SiC膜上,用于使用SPring-8 BL37XU进行X成像显微镜实验。为实现稳定照明做出了贡献.

2009年,日本同步辐射研究中心的竹内博士课题组发表了使用该装置的研究成果。
A. Takeuchi et al, J. Phys.: Conf. Ser. 186 012020 (2009)
 

Case3.X射线赛尔尼格相位环

  一种实现X射线相位差显微镜的透射元件

 
将透明物质的相位差转换为明暗对比并检测它的方法称为相位对比观察,具有多种应用。相位差为 λ/4 的环形元件用于该相位对比观察。
X射线泽尼克相位环是在X射线相位对比观察中赋予X射线λ/4相位差的元件。

由NTT-AT制造的 Ta X 射线相位环安装在使用同步辐射的 X 射线成像显微镜上,用于检测微观相位对比图像。

2009年,日本同步辐射研究中心的竹内博士课题组发表了使用该装置的研究成果。
A. Takeuchi et al, J. Phys.: Conf. Ser. 186 012020 (2009)
 

询问

NTT-AT除了这里介绍的产品外,还提供许多 X 射线光学元件,并支持客户在同步辐射科学、激光应用和工业设备领域的研发。请随时与我们联系以进行估算等咨询。
 

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