Es handelt sich um eine mehrschichtige Filmstandardprobe, die zur Bewertung der Tiefenrichtungsauflösung, Abstandsmessung und Empfindlichkeitsbewertung wie SIMS-, AES-, XPS- und XRF-Analyse verwendet wird.
Wir stellen Ihnen ein Standardmuster Ihrer gewünschten Materialkombination, Folienstärke und Anzahl der Schichten zur Verfügung.
Produktionsbeispiel
Si/BN-Mehrschichtfilmprobe
- Dies ist eine laminierte Folienprobe, die für Tiefenrichtungsanalysen wie SIMS-Analysen verwendet wird.
- Neben periodischen mehrschichtigen Folienmustern unterstützen wir auch nicht periodische mehrschichtige Folienmuster.
- Es ist auch möglich, eine ultradünne BN-Schicht (~0,01 nm) zu bilden.
Beispiel für die Bewertung der Querschnittsstruktur durch TEM
Schematisches Diagramm der Si/BN-Mehrschichtstruktur
Beispiel einer SIMS-Tiefenprofilanalyse
Beispiel einer Oberflächenrauheitsmessung durch AFM
Si/Mo-Mehrschichtfilmprobe
Si/Mo-Mehrschichtfilmprobe
Schematische Darstellung der Si/Mo-Mehrschichtstruktur
AES-Messung
Beispiel für die Auswertung der AES-Analyse
Verschiedene laminierte Muster
- Wir können Verbundfolien aus verschiedenen Materialien verarbeiten.
- Die folgende Abbildung ist ein Beispiel für ein Muster, bei dem vier verschiedene Arten von Materialien laminiert sind.
Beispiel für die Bewertung der Querschnittsstruktur und schematisches Diagramm durch TEM
Nahansicht