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EUV/X射線分光器·光檢測器

提供前所未有的光譜和光學檢測解決方案

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我們提供前所未有的光譜學和光電探測解決方案,例如 VUV、EUV 和軟 X 射線區域中的高效寬帶平場光譜儀、XAFS 設備和緊湊型 X 射線 CCD 相機。
這兩種產品都被主要在歐洲和北美的大學、研究所和私營公司廣泛使用,並為各種研究和開發做出了貢獻。


分光器のイメージ写真
光譜儀
高效平場型
XAFS装置イメージ画像
XAFS 設備
集成 XAFS 解決方案
CCD、MCP イメージ写真
CCD、MCP
CCD相機低光,
低噪聲檢測器

EUV/X射線分光器·光檢測器陣容

光譜儀

maxLIGHT pro -高效平場光譜儀和光束輪廓儀

maxLIGHT pro の写真

制造商站點 (英語)

maxLIGHT 專業版
在 XUV 光譜儀中提供最大的光收集和最高的系統效率。內置光束分析儀使其成為任何 XUV 光源的完整表徵工具。
1 nm - 200 nm 的寬平場有效範圍和光譜區域的自動切換極大地提高了研究效率。

maxLIGHT pro VUV
適用於任何 VUV 光源的完整表徵工具,結合了 40 nm – 200 nm 高效光譜儀和光束分析儀。針對較短 XUV 波長的自動波長范圍切換和即插即用擴展選項提供了更大的研發靈活性。

應用實例:高次諧波源、阿秒科學、高強度激光與物質的相互作用

easyLIGHT XUV- 緊湊型高效平場 XUV 光譜儀

dasyLIGHT XUV の写真

制造商站點 (英語)

30 nm至250 nm無縫隙配置,可覆蓋平坦的表面波長,效率高達20倍。是覆蓋寬帶的小型裝置。
搭載雜散光抑制功能,提高信噪比。

應用實例:高次諧波源、阿秒科學、高強度激光與物質的相互作用

easyLIGHT VUV- 緊湊型 VUV 光譜儀

easyLIGHT VUV の写真

制造商站點 (英語)

通用光譜儀,覆蓋 80 nm – 300 nm 波長范圍。單色儀模式也是可選的。
它具有一流的光柵效率,並通過閉路光柵定位提供出色的波長精度。它還具有雜散光抑制功能。

應用示例:激光誘導擊穿光譜 (LIBS)、等離子體發射源的表徵

 

XAFS設備

hiXAS- 集成 XAS 解決方案

hiXAS の画像

制造商站點 (英語)

hiXAS 為廣泛的 X 射線吸收精細結構 (EXAFS) 和 X 射線吸收精細結構 (XANES) 測量提供完整的研究解決方案。

X射線管、高分辨率光譜儀和混合光電探測器緊湊集成,並安裝了用於設備控制和數據分析的軟件組。

應用示例:化學物質和濃度比、化合物研究、短程有序和鍵長測定

 

CCD/MCP

maxCAM 和 easyCAM- XUV/VUV 相機

maxCAM ・ easyCAM の写真

制造商站點 (英語)

HP 光譜學的緊湊型 CF63 足跡相機專為 VUV/XUV/X 射線光譜學和成像應用而開發。這款相機擅長在弱光環境下拍攝。

maxCAM 使用背照式傳感器,量子效率高達 95%。低噪音電子元件和環境溫度 電子冷卻至 -80°C 允許暗計數可以忽略不計。
easyCAM 在 100 nm – 300 nm 波長范圍內實現了 40% 的量子效率,而傳統的 XUV 相機無法實現高效率。

應用實例:高次諧波觀察、EUV等離子體發射觀察、X射線顯微鏡

MCP/CMOS 相機- 低噪聲檢測器

MCP/CMOS camera の写真

制造商站點 (英語)

HP 光譜基於 MCP 的檢測器已在許多應用領域展示了出色的性能。
在極低光子條件下,例如每小時幾個光子,所需的採集時間可能是幾個小時。多通道板與暗計數率為 1/s/ cm2的低噪聲 CMOS 相機相結合,可實現此類測量。

應用實例:高次諧波觀察、EUV等離子體發射觀察、X射線顯微鏡



關於HP Spectroscopy

HP Spectroscopy成立於 2012 年,是一組專家,為 VUV 到軟 X 射線區域提供光譜和檢測系統。到目前為止,我們已經支持了主要在歐洲和北美的大學、研究機構和私營公司的研發。
 

新聞

2022 年 2 月 17 日
NTT-AT開始為德國 HP Spectroscopy 製造的 VUV、EUV 和軟 X 射線區域提供光譜解決方案

詢問

NTT-AT提供來自 HP Spectroscopy 的高性能產品以及NTT-AT的先進技術。請隨時與我們聯繫以進行估算等諮詢。
 
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