首頁> EUV/X射線光學元件> X射線光學元件開發實例

X射線光學部件開發事例

如果您正在尋找X射線光學研究的制造合作夥伴

多年來,NTT-AT一直協助同步加速器研究人員開發 X 射線光學元件。在這裡,我們想介紹一些我們尚未作為產品發布的 X 射線光學元件。

Case1.標記X射線菲涅爾區域板

  利用連續變化的吸收體厚度提高分辨率的菲涅爾區板塊

 
Ta圖形
使用同步輻射作為光源的 X 射線顯微鏡通常使用菲涅耳波帶板 (FZP) 作為成像元件。
NTT-AT開發了一種“Apodization FZP”,其中 X 射線吸收器的厚度從內部到外部連續變化。
通過使用該 FZP,可以實現兼具高聚光效率和高分辨率的 X 射線顯微鏡。

2017年,日本同步輻射研究中心的竹內博士課題組發表了使用該裝置的研究成果。
A Takeuchi 等人,J. Phys.:Conf. Ser. 849 012055 (2017)
 
 

Case2.分段電容區域板

  有助於X射線成像顯微鏡對觀察對象的均勻照明

 
扇形聚光鏡帶板是一種光學元件,用於使用同步輻射照射 X 射線成像顯微鏡。
該光學元件具有放射狀排列等間隔的衍射光柵的結構,通過與中心光束光闌和OSA(用於選擇波帶片的衍射級數的孔徑)組合併旋轉它,對觀察目標進行均勻照明可以實現,可以實現。

NTT-AT的扇形聚光帶板,其中三種放射狀排列的透射間距衍射光柵圖案排列在SiC膜上,用於使用SPring-8 BL37XU進行X成像顯微鏡實驗。為實現穩定照明做出了貢獻.

2009年,日本同步輻射研究中心的竹內博士課題組發表了使用該裝置的研究成果。
A. Takeuchi et al, J. Phys.: Conf. Ser. 186 012020 (2009)
 

Case3.X射線賽爾尼格相位環

  一種實現X射線相位差顯微鏡的透射元件

 
將透明物質的相位差轉換為明暗對比並檢測它的方法稱為相位對比觀察,具有多種應用。相位差為 λ/4 的環形元件用於該相位對比觀察。
X射線澤尼克相位環是在X射線相位對比觀察中賦予X射線λ/4相位差的元件。

由NTT-AT製造的 Ta X 射線相位環安裝在使用同步輻射的 X 射線成像顯微鏡上,用於檢測微觀相位對比圖像。

2009年,日本同步輻射研究中心的竹內博士課題組發表了使用該裝置的研究成果。
A. Takeuchi et al, J. Phys.: Conf. Ser. 186 012020 (2009)
 

詢問

NTT-AT除了這裡介紹的產品外,還提供許多 X 射線光學元件,並支持客戶在同步輻射科學、激光應用和工業設備領域的研發。請隨時與我們聯繫以進行估算等諮詢。
 

產品信息

X射線菲涅爾區板 X射線圖表<目錄產品>

產品列表

特寫

服務列表

特寫

解決問題的建議一覽表

光纖連接器

特寫

目錄列表

特寫