眾所周知，在超高真空中加熱可以控制矽表面上具有原子級高度的台階的聚合狀態。對於 Si(111) 平面，原子台階高度在晶體學上確定為 0.31 nm。
通過使用此樣品，您可以在高度方向以 Å 級校準您的原子力顯微鏡 (AFM) 並評估設備性能。
樣品尺寸為 10mm x 10mm，可用於任何 AFM 儀器。樣品的中心部分將被交付，因此它不會與包裹等接觸。
如果您小心存放，防止潮濕、漂浮的污染物等，您可以使用 6 個月以上。
用法
- 設備高度校準
- 設備性能檢查
請參考 J.Vac.Sci. & Technol., A14, 1228 (1996) 使用與此樣品相同的表面結構的高度校準方法。具體校準方法請與設備購買地聯繫。
觀察左圖所示的表面形狀，每個台階高度為0.31 nm。
步驟交叉的數量盡可能少，並且在熱處理過程中產生的SiC顆粒盡可能少。
步驟交叉的數量盡可能少，並且在熱處理過程中產生的SiC顆粒盡可能少。
AFM (原子力顯微鏡) 高度校正用標準試料規格等
| 品名: |
用於原子步高的 AFM 高度校準的標準樣品 貨號：S-AFM-1 |
|---|---|
| 考試費: | 硅 (111) 基板 |
| 試樣尺寸: |
10mm x 10mm x (基板厚度) 如果您有所需的樣本量，請單獨聯繫我們。 |
| 有效面積: | 中部6mmx6mm |
| 附件: | AFM觀察結果 (1μm×1μm) |
| 觀察保修期: |
交貨後 6 個月 但是，請存放在由乾燥的惰性氣體或乾燥劑控制濕度的干燥器等中。此外，建議用乾燥的惰性氣體（氮氣等）吹掉測量過程中附著的灰塵。我們不能保證表面結構會由於 AFM 測量條件的設置而惡化，或者如果用有機化學品、水等清洗。 |
| 平價: | 25萬日元 |
| 交期: | 1~2個月 |
特寫