NTT-AT 先端技術商品紹介サイト Leading-Edge Key Technology Product Information
ホーム > 材料分析サービス > 物理分析 > 構造解析

構造解析

STEM-EDS, -EELSによる原子スケールでの元素マッピング

極薄膜の構造評価　斜入射非対称X線回折法

製品一覧

光コネクタ製造

ネットワーク機器

測定器・光計測周辺機器

半導体・MEMS関連装置

光工事・保守

光学接着剤

光学部品・光学素子

MEMS・微細加工品

設備保全

KTN・光学結晶

X線光学部品

窒化物半導体エピタキシャルウエハ

電磁ノイズ対策

分析関連商品

閉じる

サービス一覧

受託加工サービス

光学材料関連技術

EMC・ソフトエラー試験サービス

環境コンサル

材料分析サービス

材料分析サービス

閉じる

課題解決のご提案一覧

光ファイバコネクタ

半導体関連

材料分析

設備保全関連

閉じる

カタログ一覧

光プロダクツ

光コネクタ研磨機及び研磨フィルム

光コネクタ測定器・端面検査機

設備保全

光学接着剤・光学部品

環境コンサル

光スイッチ

半導体MEMS関連装置

窒化物半導体エピタキシャルウェハ

分析サービス　関連商品

微細加工品

閉じる