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光学特性評価サービス

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導波路特性評価サービス

Si導波路やポリマー導波路をはじめとした導波路デバイスの評価サービスです。

光損失測定(1点法)

導波路の挿入損失を測定します。

  • 測定可能波長:0.85μm、1.3μm、1.55μm
  • 測定導波モード:TE、TM
※1点法で測定した結果は導波路端面での接続損失を含む値です

光損失波長依存性測定

導波路挿入損失の波長依存性スペクトルを測定します。

  • 測定波長範囲:0.4~1.7μm
  • 測定導波モード:TE、TM

ファイバ接続実装

光導波路、光部品へのファイバ接続、実装をお考えの方、ご相談ください。

  • 光デバイスとファイバアレイの接続
  • ファイバとチップの接続(マイクロキャピラリ使用)

信頼性試験

ヒートサイクル試験、恒温恒湿試験をお考えの方、ご相談ください。

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