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X線光学部品 開発事例

X線光学研究における製造パートナーをお探しの方へ

NTT-AT社は長年に渡り、放射光研究者の皆様の研究を、X線光学部品の開発という側面からお手伝いしてきました。 ここでは、これまで製品としての掲載はしてこなかった、X線光学部品の一部をご紹介いたします。

Case 1. アポタイゼーションX線フレネルゾーンプレート

  連続的に変化させた吸収体厚みで解像度を向上させたフレネルゾーンプレート

 
Taパタン形状
放射光を光源とするX線顕微鏡では、一般的にフレネルゾーンプレート(Fresnel Zone Plate;FZP)が結像素子として用いられています。
NTT-AT社は、X線吸収体厚みを内側から外側に向かって連続的に変化させた"アポタイゼーションFZP"を開発しました。
このFZPを用いることで、高い集光効率と高い分解能を両立させたX線顕微鏡の実現が可能となります。

なお、この素子を用いた研究成果が、高輝度光科学研究センターの竹内様のグループにより2017年に発表されました。
A Takeuchi et al, J. Phys.: Conf. Ser. 849 012055 (2017)
 
 

Case 2. セクターコンデンサーゾーンプレート

  X線結像顕微鏡の、観察対象への均一な照明に貢献

 
放射光を用いたX線結像顕微鏡の照明のために開発された光学素子がセクターコンデンサーゾーンプレートです。
この光学素子は等間隔回折格子を放射状に配置した構造を持ち、センタービームストップやOSA(ゾーンプレートの回折次数を選択するための絞り)と組み合わせ、回転させることによって、観察対象への均一な照明を実現することができます。

放射状に配置された3種類の透過間隔回折格子パタンをSiCメンブレン上に配置したNTT-AT社のセクターコンデンサーゾーンプレートは、SPring-8 BL37XUを用いたX結像顕微鏡の実験に利用され、均一で安定な照明の実現に貢献しました。

なお、この素子を用いた研究成果が、高輝度光科学研究センターの竹内様のグループにより2009年に発表されました。
A. Takeuchi et al, J. Phys.: Conf. Ser. 186 012020 (2009)
 

Case 3. X線ゼルニケ位相リング

  X線位相差顕微鏡を実現する透過素子

 
透明な物質の位相差を明暗のコントラストに変換し検出する手法は、位相差観察と呼ばれ様々な応用がされています。この位相差観察にはλ/4の位相差を与えるリング素子が用いられています。
X線位相差観察においてX線にλ/4の位相差を与える素子がX線ゼルニケ位相リングです。

NTT-AT社製のTa製X線位相リングは放射光を用いたX線結像顕微鏡に搭載され、顕微位相差像の検出にご利用いただいております。

なお、この素子を用いた研究成果が、高輝度光科学研究センターの竹内様のグループにより2009年に発表されました。
A. Takeuchi et al, J. Phys.: Conf. Ser. 186 012020 (2009)
 

お問い合わせ

NTT-AT社はここに紹介したもの以外にも、多くのX線光学部品を提供し、放射光科学分野、レーザー応用分野、産業機器分野などでお客様の研究開発をサポートしています。お見積りのご相談など、お気軽にお問い合わせください。
 

製品情報

X線フレネルゾーンプレート X線チャート <カタログ製品>

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