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EUV / X線分光器・光検出器

これまでにない分光・光検出ソリューションをご提供します

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VUV、EUV、軟X線領域における高効率・広帯域なフラットフィールド分光器、XAFS装置、コンパクトなX線CCDカメラなど、これまでにない分光・光検出ソリューションを提供いたします。
いずれの製品も欧州・北米を中心に大学・研究機関・民間企業で広く使われ、さまざまな研究開発に寄与しています。


分光器のイメージ写真
分光器
高効率なフラットフィールド型
XAFS装置イメージ画像
XAFS装置
統合型XAFSソリューション
CCD、MCP イメージ写真
CCD、MCP
低光量下向けCCDカメラ、
低ノイズ検出器

EUV/X線分光器・光検出器 ラインナップ

分光器

maxLIGHT pro   - 高効率フラットフィールド分光器・ビームプロファイラ

maxLIGHT pro の写真

メーカーのサイト(English)

maxLIGHT pro
XUV分光器における最大の集光と最高のシステム効率を提供します。内蔵されたビームプロファイラにより、あらゆるXUV光源の完全な特性評価ツールになります。
1 nm – 200 nmの広いフラットフィールドの有効範囲と、スペクトル領域の自動切り替えにより、研究効率が大きく向上します。

maxLIGHT pro VUV
40 nm – 200 nmの高効率分光器とビームプロファイラを組み合わせた、あらゆるVUV光源のための完全特性評価ツールです。波長域の自動切り替えや、より短いXUV波長へのプラグアンドプレイ拡張オプションにより、研究開発における高い柔軟性を提供します。

適用例:高次高調波発生源、アト秒科学、高強度レーザーと物質の相互作用

easyLIGHT XUV   - コンパクト高効率フラットフィールドXUV分光器

dasyLIGHT XUV の写真

メーカーのサイト(English)

30 nm – 250 nmの波長をフラットフィールドでカバーするノースリット構成で、最大20倍の高効率を実現。広帯域をカバーするコンパクトな装置です。
迷光抑制機能を搭載し、S/N比を向上させました。

適用例:高次高調波発生源、アト秒科学、高強度レーザーと物質の相互作用

easyLIGHT VUV   - コンパクトVUV分光器

easyLIGHT VUV の写真

メーカーのサイト(English)

80 nm – 300 nmの波長域をカバーする汎用分光器。モノクロメーターモードも選択可能です。
クラス最高の格子効率を持ち、閉回路の格子位置決めによる優れた波長精度を提供します。また、迷光抑制機能も搭載しています。

適用例:レーザー誘起ブレークダウン分光法(LIBS)、プラズマ発光光源の特性評価

 

XAFS装置

hiXAS   - 統合XASソリューション

hiXAS の画像

メーカーのサイト(English)

hiXASは、広域X線吸収微細構造(EXAFS)およびX線吸収微細構造(XANES)測定のための完全な研究向けソリューションを提供します。

X線管球、高解像度分光器、ハイブリッド光検出器をコンパクトにまとめ、装置の制御とデータ解析のためのソフトウェア群を搭載しています。

適用例:化学種と濃度比、化合物研究、短距離秩序と結合長の決定

 

CCD/MCP

maxCAM ・ easyCAM   - XUV/VUVカメラ

maxCAM ・ easyCAM の写真

メーカーのサイト(English)

HP spectroscopy社のコンパクトCF63フットプリントカメラは、特にVUV/XUV/X線分光とイメージングアプリケーションを考慮して開発されました。このカメラは、光量が少ない環境下での撮影に優れています。

maxCAMでは、裏面照射型センサを採用し、最大95%の量子効率を実現。低ノイズエレクトロニクスと周囲温度 -80℃までの電子冷却により、ダークカウントを無視できるほど小さくすることができます。
easyCAMは、従来のXUVカメラにおいて高い効率が得られなかった100 nm – 300 nmの波長域で、40%の量子効率を実現しています。

適用例:高次高調波観測、EUVプラズマ発光観測、X線顕微鏡

MCP/CMOS camera   - 低ノイズ検出器

MCP/CMOS camera の写真

メーカーのサイト(English)

HP spectroscopy社のMCPベース検出器は、多くの適用分野で優れた性能を発揮しています。
例えば、1時間あたり数個といったような極端に少ない光子の条件下では、必要な取得時間は数時間にも及びます。1/s/cm2のダークカウントレートで、低ノイズCMOSカメラとの組み合わせによるマルチチャンネルプレートが、このような測定を可能にします。

適用例:高次高調波観測、EUVプラズマ発光観測、X線顕微鏡



HP Spectroscopy社について

HP Spectroscopy社は2012に設立されたVUV~軟X線領域用の分光・検出システムを提供する専門家集団です。これまでに欧州・北米を中心に、大学・研究機関・民間企業の研究開発を支援してきました。
 

ニュース

2022年2月17日 
NTT-AT、独HP Spectroscopy社製VUV・EUV・軟X線領域用分光ソリューションの提供を開始

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NTT-ATでは、NTT-ATの高い技術とともに、HP Spectroscopy社の高性能な製品をご提供します。お見積りのご相談など、お気軽にお問い合わせください。
 
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