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-	光コネクタ汚れ対策キットキャンペーン　光コネクタ端面汚れを清掃、観察できる製品をキット品にしてご提案いたします。(2010.01.13)
-	光コネクタ汚れ判定キットキャンペーン　光コネクタ端面の清掃、検査、判定の3種類が可能な特別キット品です。年度末特別価格でご提供いたします。(2010.01.13)
-	光コネクタ端面検査装置キャンペーン　製造や研究、開発に有用な光コネクタ端面検査装置を在庫限りの年度末特別価格でご提供いたします。　このキャンペーンの機会をぜひご利用ください。 (2010.01.13)



-	ダウンロードサービス小冊子「光コネクタ端面汚れが及ぼす影響とその対策　Ver.1.1」を掲載いたしました。（2010.03.05)
-	超はっすい材料「HIREC」の適用事例を更新しました。「撥水材料とアンテナ融雪装置との比較」情報を掲載しました。（2010.2.12）
-	ナノインプリント用モールドカタログ製品ラインナップを追加しました。大パタン/高段差モールド　NIM-10μUL / UD /UHを掲載しました。（2010.2.10）
-	X線フレネルゾーンプレート情報を更新しました。最小ゾーン幅25nmに対応しました。（2010.2.10）
-	SiCメンブレン・SiNメンブレン＜カタログ製品＞情報を更新しました。 TEM用3mmφメンブレンチップATN/MEM-N008001/2.6M 追加しました。（2010.2.10）
-	光学部品、光学素子情報を更新しました。（2010.2.10）
-	超はっすい材料「HIREC」の適用事例を更新しました。降雪時における撥水有無による電波受信状況の比較を掲載しました。（2010.2.2）
-	「蛍光X線分析法（XRF： X-ray Fluorescence Analysis）」情報を更新しました。（2010.1.22）
-	研究者向け総合情報プロバイダＩＲＭＡＩＬ　Ｖｏｌ.40掲載！ナノテクノロジに必須！「透過電子顕微鏡（ＴＥＭ）による形態観察」（2010.1.15）
-	研究者向け総合情報プロバイダＩＲＭＡＩＬ　Ｖｏｌ.40掲載！お客様の実験室のようにご利用ください！ＮＴＴ-ＡＴの「材料分析サービス」（2010.1.15）
-	50 nmピッチで校正された、長さ校正用標準試料「50nm面内スケール」情報を新規掲載しました。（2010.1.12）
-	ＢＰＳＧ膜の高精度な評価ができる、ICP発光分光分析（ICP-AES）応用例「薄膜材料(BPSG膜)の組成分析」情報を更新しました。（2009.12.18）
-	発光線の波長と強度から元素の種類・量を調べることができる「誘導結合プラズマ発光分光分析法（ICP-AES）」情報を更新しました。（2009.12.18）
-	NTTアドバンステクノロジ株式会社は、第11回半導体パッケージング技術展に出展いたします。（2009.12.15）
-	USBポートに接続するだけで光出力、損失が測定可能な超小型、低コストの「光パワーメータ　MP-60/MP-80」が登場しました!（2009.12.14）
-	従来品より格段に低価格を実現した「光コネクタ端面三次元形状測定システム　CC6000」情報を更新しました。（2009.12.04）
-	「全反射蛍光X線分析(TXRF)」情報を更新しました。（2009.12.04）
-	「全反射蛍光X線分析　全面高速マッピング　(Sweeping-TXRF)」情報を更新しました。（2009.12.04）
-	「EUV ミラー/ 軟X線ミラー」情報を更新しました。（2009.12.01）


-	NTT-ATオンラインショップ「ワットアワーメータ」「HIREC1450NF（スプレータイプ）」「端面検査装置」が購入できます!
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