众所周知，在超高真空中加热可以控制硅表面上具有原子级高度的台阶的聚合状态。对于 Si(111) 平面，原子台阶高度在晶体学上确定为 0.31 nm。
通过使用此样品，您可以在高度方向以 Å 级校准您的原子力显微镜 (AFM) 并评估设备性能。
样品尺寸为 10mm x 10mm，可用于任何 AFM 仪器。样品的中心部分将被交付，使其不会与包裹等接触。
如果您小心存放，防止潮湿、漂浮的污染物等，您可以使用 6 个月以上。
用法
- 设备高度校准
- 设备性能检查
请参考 J.Vac.Sci. & Technol., A14, 1228 (1996) 使用与此样品相同的表面结构的高度校准方法。具体校准方法请与设备购买地联系。
观察左图所示的表面形状，每个台阶高度为0.31 nm。
步骤交叉的数量尽可能少，并且在热处理过程中产生的SiC颗粒尽可能少。
步骤交叉的数量尽可能少，并且在热处理过程中产生的SiC颗粒尽可能少。
AFM (原子力显微镜) 高度校正用标准试料规格等
| 品名: |
用于原子步高的 AFM 高度校准的标准样品 货号：S-AFM-1 |
|---|---|
| 考试费: | 硅 (111) 基板 |
| 试样尺寸: |
10mm x 10mm x (基板厚度) 如果您有所需的样本量，请单独联系我们。 |
| 有效面积: | 中部6mmx6mm |
| 附件: | AFM观察结果 (1μm×1μm) |
| 观察保修期: |
交货后 6 个月 但是，请存放在由干燥的惰性气体或干燥剂控制湿度的干燥器等中。此外，建议用干燥的惰性气体（氮气等）吹掉测量过程中附着的灰尘。我们不能保证表面结构会因为 AFM 测量条件的设置而恶化，或者如果用有机化学品、水等清洗。 |
| 平价: | 25万日元 |
| 交期: | 1~2个月 |
特写