ホーム > 材料分析サービス > 形態観察 > 透過電子顕微鏡 TEM > 金属多層膜の断面構造観察

金属多層膜の断面構造観察

TEM観察

営業部門 TEL 046-270-2075 (受付9:00~17:00)土日祝日年末年始を除く平日
お問い合わせフォーム

エッチングレートの異なる基板と膜でも、広範囲に断面TEM観察が可能です。下の写真は、Sl基板上のMo/Sl多層膜の断面TEM観察の例です。

Sl基板上のMo/Sl多層膜断面TEM観察例


 

製品一覧

閉じる

サービス一覧

材料分析サービス

  • 形態観察
    デバイスや材料の形態・構造、および結晶構造解析を行っております
  • 試験特性評価
    光通信材料の光学特性や、タッチパネル、ハンディ端末の指紋汚れの定量評価等

材料分析サービス

閉じる

課題解決のご提案一覧

閉じる

カタログ一覧

閉じる