ホーム > 材料分析サービス > 形態観察 > 透過電子顕微鏡 TEM > カーボンナノチューブのHRTEM観察

カーボンナノチューブのHRTEM観察

ナノマテリアルのHRTEM

営業部門 TEL 046-270-2075 (受付9:00~17:00)土日祝日年末年始を除く平日
お問い合わせフォーム

InP基板上のInPナノワイヤ、基板から成長したCNTをそのままTEM観察しました。
C60を内包したCNTはマイクログリッドに捕集して観察しました。

 

InPナノワイヤ24nm 750nm

InPナノワイヤ100nm

InPナノワイヤ

 

C60を内包したSWCNT15nm
C60を内包したSWCNT

 

基板上に成長させたSWCNT300nm
基板上に成長させたSWCNT30nm

基板上に成長させたSWCNT

 

製品一覧

閉じる

サービス一覧

材料分析サービス

  • 形態観察
    デバイスや材料の形態・構造、および結晶構造解析を行っております
  • 試験特性評価
    光通信材料の光学特性や、タッチパネル、ハンディ端末の指紋汚れの定量評価等

材料分析サービス

閉じる

課題解決のご提案一覧

閉じる

カタログ一覧

閉じる